超聲波探傷掃查顯示的幾種方法-飛泰

超聲波檢測設備接收到的超聲信號，需要通過一定的成像技術顯示在儀器上，以便操作人員較直觀的了解工件內部的缺陷狀況。按照超聲信號的顯示方式，一般可將超聲成像技術分為A、B、C、D、S.型掃描顯示。

A 型顯示

A 型顯示方式是傳統的波形顯示，將超聲信號的幅度與傳播時間在坐標圖中進行繪制。X軸方向代表傳播時間，Y 軸方向代表信號的幅度，一般單位是 dB。

B、C、D 型掃描成像

在 A 掃描顯示基礎上，對接收到的超聲信號進行圖像重構，又相繼發展出 B、C、D 型超聲成像技術。B 掃描顯示的是與聲波傳輸方向平行，且與工件待測量表面垂直的剖面;C 掃描顯示的是工件的橫截面;D 掃描顯示的是與聲波傳輸方向和工件待測量表面都垂直的剖面。

相控陣技術和 S 型掃描成像

超聲相控陣技術是一種先進的超聲波檢測技術，它是在相控陣雷達技術的基礎上發展起來的。相控陣探頭是由很多獨立的小晶片組成的探頭陣列，使用時探頭陣列中同時發射和接收多路脈沖，設備再對接收到的多路信號進行分析。超聲相控陣設備在掃查時，可以在工件表面某個入射點進行一定角度的扇形掃查，成像方式為扇形，因此稱為扇形掃描成像，又稱 S 掃描成像。