添加一點(diǎn)“鹽”,全真空蒸鍍鈣鈦礦電池效率飆升到25.53%
鈣鈦礦太陽(yáng)能電池(PSCs)作為下一代光伏技術(shù)的有力競(jìng)爭(zhēng)者,正穩(wěn)步邁向商業(yè)化。在眾多制備工藝中,真空蒸鍍因其精確的過(guò)程控制、優(yōu)異的薄膜均勻性、無(wú)需有毒溶劑以及設(shè)備重復(fù)性高等優(yōu)勢(shì),被視為規(guī)模化生產(chǎn)的理想路徑。然而,全真空蒸鍍PSCs的性能長(zhǎng)期落后于溶液法器件,核心瓶頸在于固態(tài)反應(yīng)中前驅(qū)體擴(kuò)散困難、相變過(guò)程受限及結(jié)晶調(diào)控能力不足。溶液法中,溶劑-溶質(zhì)配位形成的中間相(如DMSO-PbI?、FA·NMP-PbI?)能顯著降低δ-α相變能壘,但熱蒸發(fā)固態(tài)前驅(qū)體缺乏此類中間相,反應(yīng)需依賴熱能驅(qū)動(dòng),隨機(jī)分子擴(kuò)散常導(dǎo)致反應(yīng)不完全、不均勻,使得前驅(qū)體相變困難、結(jié)晶過(guò)程難以控制。
針對(duì)上述挑戰(zhàn),南京工業(yè)大學(xué)黃維院士、陳永華教授、夏英東教授和郭慶勛副教授?團(tuán)隊(duì),通過(guò)層層熱蒸發(fā)鈣鈦礦前驅(qū)體的固態(tài)反應(yīng)路徑,創(chuàng)新性地引入甲酸銨乙酸酯(FAAc)調(diào)控層。FAAc可直接與PbI?反應(yīng)生成FAPbI?種子層,顯著降低前驅(qū)體向δ相固態(tài)轉(zhuǎn)化及其后續(xù)向α相鈣鈦礦轉(zhuǎn)變的能壘;同時(shí),過(guò)量乙酸根(Ac?)可鈍化晶界缺陷,抑制非輻射復(fù)合。此外,F(xiàn)AAc與PbI?反應(yīng)生成的PbAc?在高溫下易揮發(fā),不會(huì)在薄膜中大量殘留。由此制備的全真空蒸鍍PSCs實(shí)現(xiàn)了25.53%的光電轉(zhuǎn)換效率(PCE)和18.38%的電致發(fā)光外量子效率(EQE)。無(wú)溶劑工藝還賦予器件優(yōu)異穩(wěn)定性:在ISOS-L-1協(xié)議下連續(xù)運(yùn)行1000小時(shí)后,器件仍保持初始PCE的95%以上;在55℃/55%相對(duì)濕度的濕熱測(cè)試中,3000小時(shí)后效率損失低于2%。相關(guān)論文以“Controlled solid-state crystallization with formamidinium acetate for fully vacuum-deposited perovskite solar cells”為題,發(fā)表在Nature Energy上。
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固態(tài)反應(yīng)調(diào)控
研究團(tuán)隊(duì)采用層層熱蒸發(fā)工藝制備含F(xiàn)AAc的鈣鈦礦前驅(qū)體薄膜(圖1a)。FAAc是一種低熔點(diǎn)熔鹽(約158℃),可通過(guò)熱蒸發(fā)制備薄膜(圖1b)。前驅(qū)體薄膜在環(huán)境氣氛下于175℃熱臺(tái)退火,顏色由黃轉(zhuǎn)黑,標(biāo)志著鈣鈦礦相的形成。值得注意的是,F(xiàn)AAc處理薄膜的相變時(shí)間僅約5秒,遠(yuǎn)快于對(duì)照組的15秒。X射線衍射(XRD)跟蹤不同退火溫度下的組分變化顯示(圖1d),F(xiàn)AAc顯著降低了PbI?峰的消失溫度和δ相形成起始溫度,加速了固態(tài)擴(kuò)散反應(yīng);同時(shí),δ-α相完全轉(zhuǎn)變溫度從130℃降至110℃。為進(jìn)一步驗(yàn)證,團(tuán)隊(duì)制備了與蒸鍍薄膜相同組分比例的粉末混合物(圖1e、f)。含F(xiàn)AAc的粉末在研磨后即出現(xiàn)明顯δ-FAPbI?峰,加熱后完全轉(zhuǎn)化為α-FAPbI?,晶粒尺寸和均勻性明顯改善。密度泛函理論(DFT)計(jì)算(圖1g)證實(shí)FAAc可降低固態(tài)前驅(qū)體向δ相及δ相向α相轉(zhuǎn)變的反應(yīng)能壘。溫度依賴?yán)庾V(圖1h)顯示FAAc與PbI?在室溫即可自發(fā)反應(yīng)生成δ-FAPbI?,加熱至120℃以上促進(jìn)α相形成。XRD進(jìn)一步確認(rèn)了反應(yīng)路徑(圖1i):2FAAc(s)+3PbI?(s)→2FAPbI?(s)+PbAc?(s)。FAAc與PbI?間的強(qiáng)配位和氫鍵作用顯著降低了反應(yīng)能壘,F(xiàn)AAc/PbI?界面反應(yīng)生成的FAPbI?作為成核位點(diǎn),促進(jìn)了高質(zhì)量晶體生長(zhǎng)(圖1j)。
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圖1 | 層-by-層蒸鍍鈣鈦礦薄膜的固態(tài)反應(yīng)。 a,基于FAAc的層-by-層沉積策略熱蒸發(fā)鈣鈦礦薄膜的示意圖。 b,F(xiàn)AAc的化學(xué)結(jié)構(gòu)和靜電勢(shì)(ESP)圖。 c,退火過(guò)程中鈣鈦礦薄膜演變的照片(退火溫度175℃)。 d,不同反應(yīng)溫度下α-FAPbI?、δ-FAPbI?和PbI? XRD峰面積的積分。藍(lán)色、黃色和黑色箭頭分別指向δ-FAPbI?、PbI?和α-FAPbI?。 e,PbI?/FAI/CsI/FAAc混合粉末在機(jī)械研磨和175℃退火后的數(shù)碼照片。 f,對(duì)應(yīng)的XRD圖譜。 g,有/無(wú)FAAc時(shí)FAI+PbI?→FAPbI?反應(yīng)的能量隨反應(yīng)坐標(biāo)變化示意圖。 h,PbI?和FAAc混合粉末的溫度依賴?yán)庾V。 i,F(xiàn)AAc、PbI?及其混合粉末退火后的XRD圖譜。黃色、黑色和淺藍(lán)色箭頭分別指向PbI?、α-FAPbI?和PbAc?。 j,固態(tài)反應(yīng)和結(jié)晶過(guò)程中FAAc促進(jìn)α-FAPbI?形成的示意圖。橙色箭頭代表過(guò)量FAAc的揮發(fā)。
原位結(jié)晶過(guò)程與薄膜質(zhì)量
通過(guò)原位掠入射廣角X射線散射(GIWAXS,圖2a)跟蹤退火初期的相演變,對(duì)照組在初始階段幾乎無(wú)鈣鈦礦信號(hào),持續(xù)存在PbI?衍射(q=0.92 ??1);而FAAc樣品在175℃退火初始階段即瞬間形成三維中間相(q≈10.5 nm?1),固態(tài)前驅(qū)體完全轉(zhuǎn)化為α相的時(shí)間從19.2秒縮短至16.8秒。原位光致發(fā)光(PL)光譜(圖2b)顯示,F(xiàn)AAc樣品初始即出現(xiàn)810 nm附近的強(qiáng)PL峰,歸因于FAAc與PbI?直接反應(yīng)在表面生成FAPbI?種子層,該峰位相對(duì)于理想α-FAPbI?(約840 nm)發(fā)生藍(lán)移,可能源于Cs?和Cl?的摻入及量子限域效應(yīng);隨后大量三維中間相形成,PL峰藍(lán)移至約785 nm。退火過(guò)程中FAAc可向下擴(kuò)散,與PbI?混合后極大加速了與FAI的互擴(kuò)散,有效促進(jìn)固態(tài)反應(yīng)并改善結(jié)晶性。掃描電鏡(SEM,圖2c)顯示FAAc處理薄膜晶粒明顯增大,埋底界面針孔顯著減少,而對(duì)照組晶粒細(xì)小且殘留明顯PbI?。掠入射XRD(GIXRD,圖2d)顯示對(duì)照組隨入射角增大衍射峰向高角度偏移,存在內(nèi)部應(yīng)力;FAAc薄膜峰位幾乎不變,結(jié)構(gòu)均勻性改善。飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜(ToF-SIMS,圖2e)表明對(duì)照組Pb和Cs信號(hào)強(qiáng)度波動(dòng)明顯,元素分布不均;目標(biāo)樣品元素信號(hào)平坦穩(wěn)定,組分均勻性優(yōu)異。
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圖2 | 鈣鈦礦薄膜的原位結(jié)晶過(guò)程與薄膜質(zhì)量。 a,鈣鈦礦前驅(qū)體薄膜在熱退火(175℃)過(guò)程中的原位GIWAXS圖譜。箭頭方向代表峰位隨時(shí)間的變化。 b,原位PL光譜。 c,鈣鈦礦薄膜的頂面和底面的俯視SEM圖像。比例尺:1 μm。 d,GIXRD圖譜。 e,ToF-SIMS深度剖面圖。
體相鈍化與缺陷抑制
理論計(jì)算(圖3a)顯示Ac?可強(qiáng)吸附于暴露的Pb2?位點(diǎn),將Pb-I鍵長(zhǎng)從3.079 ?拉長(zhǎng)至4.13 ?,有效降低帶隙內(nèi)陷阱態(tài)密度(圖3b),抑制非輻射復(fù)合。X射線光電子能譜(XPS,圖3c)中FAAc處理樣品Pb 4f和I 3d核心能級(jí)向低結(jié)合能偏移,證實(shí)強(qiáng)化學(xué)相互作用;傅里葉變換紅外光譜中O-H鍵紅移進(jìn)一步證實(shí)Ac?與鈣鈦礦晶格間的強(qiáng)配位。陷阱填充電壓(VTFL)顯示陷阱密度從7.7×101?降至6.0×101? cm?3。溫度依賴阻抗譜提取缺陷激活能(圖3d),對(duì)照組為11.66 meV,F(xiàn)AAc器件為7.81 meV,陷阱能級(jí)更淺。PL 譜圖(圖3e)顯示FAAc薄膜在SnO?襯底上PL強(qiáng)度降低,表明電荷提取更高效。溫度依賴PL(圖3f)擬合激子結(jié)合能,對(duì)照組105.37 meV,F(xiàn)AAc薄膜86.28 meV,較低激子結(jié)合能有利于激子解離和電荷提取。光致發(fā)光量子產(chǎn)率(PLQY)計(jì)算的準(zhǔn)費(fèi)米能級(jí)分裂(QFLS,圖3g)顯示FAAc處理樣品具有更高QFLS值,體相非輻射復(fù)合減少;電子傳輸層和空穴傳輸層界面接觸損失分別從32 meV和73 meV降至15 meV和6 meV。
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圖3 | 鈣鈦礦薄膜的缺陷鈍化。 a,對(duì)照組和Ac鈍化鈣鈦礦表面的3×3×1切片優(yōu)化結(jié)構(gòu);位于表面或界面的FA?離子因不對(duì)稱化學(xué)環(huán)境或缺陷而發(fā)生旋轉(zhuǎn)運(yùn)動(dòng)。原子顏色標(biāo)注:灰,Pb;紅,O;棕,C;紫,I;藍(lán),N;粉,H。 b,對(duì)照組和Ac修飾鈣鈦礦(含碘空位)的態(tài)密度(DOS)分布。 c,鈣鈦礦薄膜的XPS曲線,峰位經(jīng)高斯函數(shù)擬合。 d,不同溫度下從導(dǎo)數(shù)比容譜提取的特征頻率的Arrhenius圖。實(shí)線代表Arrhenius函數(shù)擬合結(jié)果。 e,鈣鈦礦薄膜的PL mapping,側(cè)面為強(qiáng)度分布圖。比例尺:10 μm。 f,80-300 K范圍內(nèi)溫度依賴PL強(qiáng)度的偽色圖。 g,半器件中QFLS統(tǒng)計(jì)及器件Voc統(tǒng)計(jì)。左兩列:有無(wú)電荷傳輸層(CTLs)時(shí)鈣鈦礦薄膜的QFLS統(tǒng)計(jì);右兩列:器件Voc統(tǒng)計(jì)(n=35個(gè)樣品)。每個(gè)箱線圖中中心線代表中位值。
器件結(jié)構(gòu)與性能
團(tuán)隊(duì)開發(fā)了磁控濺射SnO?(M-SnO?)作為電子傳輸層、熱蒸發(fā)Spiro-TTB:MoO?作為空穴傳輸層。單載流子器件(圖4a)顯示M-SnO?具有更高電子遷移率,且其導(dǎo)帶最小值(-4.07 eV)與鈣鈦礦層(-3.98 eV)更匹配(圖4b),降低界面能壘。Spiro-TTB:MoO?空穴遷移率與Spiro-OMeTAD:Li相當(dāng),價(jià)帶最大值(-5.27 eV)更接近鈣鈦礦(-5.52 eV),且厚度僅30 nm,完美覆蓋并保持鈣鈦礦形貌,同時(shí)具有優(yōu)異熱穩(wěn)定性(分解溫度>530℃)和疏水性。優(yōu)化器件結(jié)構(gòu)為FTO/M-SnO?(20 nm)/鈣鈦礦活性層(700 nm)/Spiro-TTB:MoO?(25 nm)/MoO?(5 nm)/Ag(100 nm)(圖4c)。冠軍FAAc-PSC的J-V曲線(圖4d)顯示開路電壓從1.12 V大幅提升至1.18 V,填充因子提升至82.26%,實(shí)現(xiàn)25.53%的PCE,超越此前所有全真空蒸鍍PSCs報(bào)道效率(圖4e)。第三方認(rèn)證PCE達(dá)24.93%(Jsc 26.08 mA·cm?2,Voc 1.16 V,F(xiàn)F 82.65%)。1.00 cm2器件實(shí)現(xiàn)24.00%效率。該器件同時(shí)表現(xiàn)出穩(wěn)定明亮的近紅外電致發(fā)光(EL),發(fā)射峰813 nm(圖4f),啟亮電壓約1.3 V(圖4g),EL EQE達(dá)18.38%,遠(yuǎn)優(yōu)于對(duì)照組的8.26%和43.71 W sr?1 m?2的輻亮度。圖4h總結(jié)了近年熱蒸發(fā)PeLEDs性能,該策略實(shí)現(xiàn)顯著提升。
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圖4 | 器件結(jié)構(gòu)與光電性能。 a,單載流子器件的電流密度-電壓(J-V)曲線。曲線僅為視覺引導(dǎo)。 b,PSCs的能級(jí)排布。 c,器件結(jié)構(gòu)的示意圖。 d,全真空蒸鍍冠軍PSCs的J-V曲線。 e,歷年來(lái)全真空蒸鍍PSCs的PCE演變(詳細(xì)光伏參數(shù)見補(bǔ)充表1-3)。 f,PSC作為L(zhǎng)ED工作時(shí)的EL EQE-電流密度曲線,插圖為不同電壓下的EL光譜及其發(fā)光圖像。 g,PSC作為L(zhǎng)ED時(shí)的電流密度-電壓和輻亮度-電壓特性。 h,近年報(bào)道的熱蒸發(fā)PeLEDs的EQE總結(jié)(詳細(xì)光伏參數(shù)見補(bǔ)充表4-7)。 i,封裝PSCs在濕熱存儲(chǔ)條件(55℃/55% RH)下的長(zhǎng)期穩(wěn)定性測(cè)試。對(duì)照組和目標(biāo)組初始PCE分別為22.29%和24.83%。 j,未封裝PSCs在N?手套箱中連續(xù)1-sun光照下的MPP跟蹤(25℃)。光源為白光LED,強(qiáng)度校準(zhǔn)至1-sun光照(補(bǔ)充圖51)。對(duì)照組和目標(biāo)組初始PCE分別為22.35%和25.14%。
穩(wěn)定性與展望
FAAc鈣鈦礦薄膜在連續(xù)激光(445 nm)照射下PL強(qiáng)度保持80%達(dá)800分鐘。封裝器件在55℃/55% RH濕熱測(cè)試(ISOS-D-3,圖4i)中3000小時(shí)后PCE幾乎不變,對(duì)照組僅保持初始值的60%。未封裝器件在氮?dú)馐痔紫渲羞B續(xù)最大功率點(diǎn)跟蹤(ISOS-L-1,圖4j)1000小時(shí)后FAAc器件保持初始PCE的95.7%,對(duì)照組約640小時(shí)后僅剩50%。全真空蒸鍍工藝結(jié)合Spiro-TTB:MoO?的本征穩(wěn)定性,使器件穩(wěn)定性接近溶液法器件最高水平。該工作不僅證實(shí)了FAAc調(diào)控固態(tài)結(jié)晶的有效性,更展示了全真空蒸鍍制備高效穩(wěn)定PSCs的規(guī)模化路線,為真空工藝鈣鈦礦光電器件的商業(yè)化應(yīng)用鋪平了道路。
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